32,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 1-2 Wochen
payback
16 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

El libro trata sobre la monitorización y seguridad de infraestructuras en tiempo real mediante sensores de vibración e inclinación a escala urbana integrados con IoT y tiene como núcleo algoritmos de aprendizaje automático para la detección de eventos y la toma de decisiones.Este trabajo se centra en el estudio exhaustivo, el diseño, la fabricación, las pruebas, la calibración y el despliegue de nodos de sensores de calidad industrial con detección de resolución extremadamente alta para garantizar advertencias fiables contra la superación de los límites permisibles del sitio y la llamada a la…mehr

Produktbeschreibung
El libro trata sobre la monitorización y seguridad de infraestructuras en tiempo real mediante sensores de vibración e inclinación a escala urbana integrados con IoT y tiene como núcleo algoritmos de aprendizaje automático para la detección de eventos y la toma de decisiones.Este trabajo se centra en el estudio exhaustivo, el diseño, la fabricación, las pruebas, la calibración y el despliegue de nodos de sensores de calidad industrial con detección de resolución extremadamente alta para garantizar advertencias fiables contra la superación de los límites permisibles del sitio y la llamada a la intervención. Las principales exigencias en la vigilancia de catástrofes consisten en la flexibilidad de despliegue, la escalabilidad del sistema y la rápida recuperación de datos para localizar rápidamente zonas peligrosas (o posibles derrumbes).
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Autorenporträt
O Prof. Farid Touati (Universidade do Qatar) tem mais de 20 anos de experiência em sensores, sistemas incorporados e electrónica industrial. Tem 230+ artigos e vários livros/ capítulos de livros, com 7 bolsas de investigação QNRF (no valor de 8,0+ milhões de dólares), envolvido na NSF-EPSCoR/NSF 00-43 Grant (AL/USA Research Infrastructure, 2001-2004. É membro do IEEE, APS, IASTED/US.