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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - Fearn, Sarah
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Produktdetails
  • Iop Concise Physics
  • Verlag: IOP Publishing Ltd
  • Seitenzahl: 66
  • Erscheinungstermin: 16. Oktober 2015
  • Englisch
  • Abmessung: 254mm x 178mm x 6mm
  • Gewicht: 340g
  • ISBN-13: 9781643279107
  • ISBN-10: 1643279106
  • Artikelnr.: 62508124