Ankur Bist

Analiz defektow s pomosch'ü Ai

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Produktbeschreibung

II i ego prilozheniq ispol'zuütsq powsemestno w nashi dni, i nasha zadacha - proqsnit' ih znachenie dlq wyqwleniq defektow. Dlq analiza defektow trebuütsq razlichnye funkcii, a takzhe predwaritel'naq obrabotka. Takim obrazom, analiz defektow metalla wypolnqetsq, a klassifikaciq pomogaet prinqt' reshenie o dal'nejshem ispol'zowanii metalla. Takim obrazom, razlichnye proizwodstwennye problemy mogut byt' resheny, esli klassifikaciq metalla budet wypolnena äffektiwno.

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Produktdetails

• Verlag: Sciencia Scripts
• Seitenzahl: 52
• Erscheinungstermin: 29. April 2024
• Russisch
• Abmessung: 220mm x 150mm x 4mm
• Gewicht: 96g
• ISBN-13: 9786207495146
• ISBN-10: 6207495144
• Artikelnr.: 70553356

Autorenporträt

Prof. Ankur Singh Bist ist Assistenzprofessor am KIET Ghaziabad. Sein Forschungsgebiet ist die Computervirologie. Er hat mehr als 100 Forschungsarbeiten verfasst. Er hat als Kernmitglied an verschiedenen Konferenzen von IEEE, Springer usw. teilgenommen. Er hat als Gutachter/Herausgeber an mehr als 40 Konferenzen in Indien, Japan, Malaysia usw. teilgenommen.