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La mesure de la forme 3D est une problématique qui attire de plus en plus de chercheurs et qui trouve son application dans des domaines divers tels que l'inspection industrielle.Ces solutions sont basées sur des systèmes projecteur/caméra et utilisent de la lumière structurée.L'information 3D est ensuite calculée en décodant la distorsion des patrons projetés sur l'objet sous contrôle.Une des techniques les plus utilisées de la lumière structurée est la codification sinusoïdale de la phase qui permet une numérisation 3D de résolution pixélique.Notre travail porte sur le calcul de phase et plus…mehr

Produktbeschreibung
La mesure de la forme 3D est une problématique qui attire de plus en plus de chercheurs et qui trouve son application dans des domaines divers tels que l'inspection industrielle.Ces solutions sont basées sur des systèmes projecteur/caméra et utilisent de la lumière structurée.L'information 3D est ensuite calculée en décodant la distorsion des patrons projetés sur l'objet sous contrôle.Une des techniques les plus utilisées de la lumière structurée est la codification sinusoïdale de la phase qui permet une numérisation 3D de résolution pixélique.Notre travail porte sur le calcul de phase et plus particulièrement sur l'utilisation d'algorithmes robustes de traitement d'un seul patron afin d'optimiser les temps de traitements.Ce travail analyse l'effet de plusieurs paramètres physiques intervenant pendant l'acquisition des données ou lors de leurs traitements.En plus de l'analyse numérique, des études expérimentales ont étés effectuées afin de démontrer la validité de la méthode d'inspection proposée.De plus, cette technique adoptée a permis d'effectuer des tests sur des données réelles menant à des résultats fort satisfaisants qui valident nos approximations et nos solutions proposées
Autorenporträt
Mohammed Bailich,né à Bouarfa (Maroc) le 1er juin 1980, est un chercheur en traitement d¿image et vision industrielle.Il est titulaire d¿un Doctorat en 2015 à l'université Mohammed 1er-Maroc.Ses travaux de recherche s¿articulent autour de l¿analyse multi échelle,optique appliqué,traitement de signal et de l'imagerie