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Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

16.11.2009

Abbildungen

XXII, 212 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

24,1/16,3/2,3 cm

Gewicht

501 g

Auflage

2010 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-0930-5

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Erscheinungsdatum

16.11.2009

Abbildungen

XXII, 212 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

24,1/16,3/2,3 cm

Gewicht

501 g

Auflage

2010 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-0930-5

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Soft Errors.- Analytical Determination of Radiation-induced Pulse Width in Combinational Circuits.- Analytical Determination of the Radiation-induced Pulse Shape.- Modeling Dynamic Stability of SRAMs in the Presence of Radiation Particle Strikes.- 3D Simulation and Analysis of the Radiation Tolerance of Voltage Scaled Digital Circuits.- Clamping Diode-based Radiation Tolerant Circuit Design Approach.- Split-output-based Radiation Tolerant Circuit Design Approach.- Process Variations.- Sensitizable Statistical Timing Analysis.- A Variation Tolerant Combinational Circuit Design Approach Using Parallel Gates.- Process Variation Tolerant Single-supply True Voltage Level Shifter.- Conclusions and Future Directions.