Thomas Cleff

Angewandte Induktive Statistik und Statistische Testverfahren

Eine computergestützte Einführung mit Excel, SPSS und Stata

• Broschiertes Buch

Produktbeschreibung

Dieses Lehrbuch führt praxisorientiert in die Grundlagen, Techniken und Anwendungsmöglichkeiten der modernen induktiven Datenanalyse ein. Die Inhalte reichen von der klassischen Messfehlertheorie und den Grundlagen der Wahrscheinlichkeitsrechnung, über die Darstellung unterschiedlicher Wahrscheinlichkeitsverteilungen, bis zur Berechnung von Konfidenzintervallen. Zudem wird ein tiefgehender Einblick in parametrische und nicht-parametrische Testverfahren gegeben. Alle Themen werden mit Hilfe von computerbasierten Berechnungen auf betriebswirtschaftliche Beispiele angewendet. Die Themengebiete decken so alle wichtigen Aspekte einer Hochschulveranstaltung zur Induktiven Statistik ab bzw. gehen in Teilen sogar darüber hinaus.

Das Lehrbuch zeigt die effiziente Anwendung statistischer Verfahren auf den Computerprogrammen Excel, SPSS und Stata und schult so die Kompetenz, Ergebnisse selbstständig mit dem Computer berechnen und interpretieren zu können. Hierzu werden online die verwendeten Datensätze zur Verfügung gestellt. Zur Vertiefung sind jedem Kapitel Übungsaufgaben mit Lösungen angefügt, die ein effizientes Selbststudium erleichtern. Eine Formelsammlung und ein Tabellenanhang runden das Lehrbuch ab.

Produktdetails

• Verlag: Gabler / Springer Fachmedien Wiesbaden / Springer Gabler
• Artikelnr. des Verlages: 978-3-8349-0753-0
• 1. Aufl. 2019
• Seitenzahl: 284
• Erscheinungstermin: 25. Februar 2019
• Deutsch
• Abmessung: 240mm x 168mm x 16mm
• Gewicht: 483g
• ISBN-13: 9783834907530
• ISBN-10: 3834907537
• Artikelnr.: 34376067

Autorenporträt

Professor Dr. Thomas Cleff lehrt Quantitative Methoden der Betriebswirtschaftslehre an der Hochschule Pforzheim. Neben seiner Forschungsaktivität am Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung (ZEW) in Mannheim lehrt und forscht er als Gastprofessor an einer Vielzahl ausländischer Hochschulen, darunter an der Simon Fraser University Vancouver, an der TEC de Monterrey und an der Universitas Gadjah Mada Yogyakarta.

Inhaltsangabe

Einführung.- Die klassische Messfehlertheorie.- Wahrscheinlichkeitsrechnung.- Zufallsvariablen und Wahrscheinlichkeitsverteilungen.- Parameterschätzung.- Testverfahren.