La difracción de rayos X es una técnica no destructiva muy potente para caracterizar materiales cristalinos. Proporciona información sobre las estructuras, las fases, las orientaciones cristalinas preferidas y otros parámetros estructurales, como el tamaño medio del grano, el cristalino, la deformación y los defectos del cristal. Los picos de difracción de rayos X son causados por la interferencia constructiva de un haz monocromático de rayos X dispersados en ángulos particulares desde cada conjunto de planos de red durante un espécimen. Las intensidades de los picos se observan por la distribución de los átomos dentro de la red. En consecuencia, el patrón de difracción de rayos X es la huella digital de las disposiciones atómicas periódicas durante un determinado material. Esta revisión resume las tendencias científicas relacionadas con el rápido desarrollo de la técnica de difracción de rayos X en los últimos cinco años en relación con los campos de los productos farmacéuticos, la ciencia forense, las aplicaciones geológicas, y la fabricación de vidrio, la ingeniería civil, así como en el análisis de la corrosión.
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