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En este trabajo se realizó la síntesis de películas delgadas CeO2, La2O3 y sus combinaciones mediante la técnica de r.f. magnetrón sputtering, como una alternativa para recubrimientos de protección anticorrosiva en aleaciones de aluminio comercial (AA7075, AA6061 y AA6082). Asimismo, se presentan los resultados de propiedades ópticas al ser depositados en sustratos de vidrio y/o obleas de silicio con orientación (100). Los resultados obtenidos por esta técnica de preparación, se compararon con el método tradicional de tratamientos de conversión química. Se presentan los resultados de…mehr

Produktbeschreibung
En este trabajo se realizó la síntesis de películas delgadas CeO2, La2O3 y sus combinaciones mediante la técnica de r.f. magnetrón sputtering, como una alternativa para recubrimientos de protección anticorrosiva en aleaciones de aluminio comercial (AA7075, AA6061 y AA6082). Asimismo, se presentan los resultados de propiedades ópticas al ser depositados en sustratos de vidrio y/o obleas de silicio con orientación (100). Los resultados obtenidos por esta técnica de preparación, se compararon con el método tradicional de tratamientos de conversión química. Se presentan los resultados de caracterización estructural, topográfica y morfológica mediante diferentes técnicas. Las películas se evaluaron electroquímicamente mediante potencial a circuito abierto (OCP), resistencia a la polarización (Rp), espectroscopía de impedancia electroquímica (EIE) y curvas de polarización potenciodinámica en una solución de NaCl al 3.0 % peso. Los resultados obtenidos muestran un incremento en las propiedades de protección utilizando la técnica de sputtering en comparación con el método tradicional de tratamientos de conversión química.
Autorenporträt
S. B. Brachetti-Sibaja, cursó el doctorado en CICATA UA del IPN en el área de electroquímica, tiene 10 publicaciones indizadas en el Journal Citation Reports (JCR), trabajos de congreso en extenso y expositor en diferentes foros. Es profesor titular C de tiempo completo en TNM/ITCM y miembro del sistema nacional de investigadores nivel I.