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A difracção de raios X é uma técnica não destrutiva muito poderosa para a caracterização de materiais cristalinos. Fornece informação sobre estruturas, fases, orientações preferenciais de cristal e outros parâmetros estruturais, como tamanho médio do grão, cristalino, deformação e defeitos de cristal. Os picos de difracção de raios X são causados pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raios X espalhado em ângulos particulares de cada conjunto de planos de grelha durante uma amostra. Os picos de intensidade são observados pela distribuição dos átomos dentro da grelha.…mehr

Produktbeschreibung
A difracção de raios X é uma técnica não destrutiva muito poderosa para a caracterização de materiais cristalinos. Fornece informação sobre estruturas, fases, orientações preferenciais de cristal e outros parâmetros estruturais, como tamanho médio do grão, cristalino, deformação e defeitos de cristal. Os picos de difracção de raios X são causados pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raios X espalhado em ângulos particulares de cada conjunto de planos de grelha durante uma amostra. Os picos de intensidade são observados pela distribuição dos átomos dentro da grelha. Consequentemente, o padrão de difracção de raios X é a impressão digital de arranjos atómicos periódicos durante um dado material. Esta revisão resume as tendências científicas relacionadas com o rápido desenvolvimento da técnica de difracção de raios X ao longo dos últimos cinco anos no que diz respeito aos campos dos produtos farmacêuticos, ciência forense, aplicações geológicas, e fabrico de vidro, engenharia civil, bem como na análise da corrosão.
Autorenporträt
Il dottor N. K. Dhapekar è professore assistente e responsabile del Dipartimento di Ingegneria Civile dell'Università di Kalinga, Chhattisgarh, India. Ha una ricca esperienza di insegnamento, ricerca e consulenza industriale di circa 20 anni, durante i quali ha supervisionato molti studiosi e ha svolto incarichi di consulenza offshore.