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Produktbild: Applied Scanning Probe Methods IV
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Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications

Aus der Reihe NanoScience and Technology
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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

22.02.2006

Abbildungen

XLIV, 284 p.

Herausgeber

Bharat Bhushan + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

284

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

586 g

Auflage

1 Auflage 2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-26912-0

Beschreibung

Rezension

From the reviews:



"The editors have done a good job in making the various chapters quite readable and most of the chapters are well written on a level that will be accessible to most readers. … As is usually the case with Springer books, these volumes have been beautifully printed, illustrated, and nicely bound for long term durability." (Gary J. Long & Fernande Grandjean, Physicalia Magazine, Vol. 29 (4), 2007)

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Erscheinungsdatum

22.02.2006

Abbildungen

XLIV, 284 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

284

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

586 g

Auflage

1 Auflage 2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-26912-0

Herstelleradresse

Springer Nature Customer Service Center GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE
ProductSafety@springernature.com

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  • Scanning Probe Lithography for Chemical, Biological and Engineering Applications.- Nanotribological Characterization of Human Hair and Skin Using Atomic Force Microscopy (AFM).- Nanofabrication with Self-Assembled Monolayers by Scanning Probe Lithography.- Fabrication of Nanometer-Scale Structures by Local Oxidation Nanolithography.- Template Effects of Molecular Assemblies Studied by Scanning Tunneling Microscopy (STM).- Microfabricated Cantilever Array Sensors for (Bio-)Chemical Detection.- Nano-Thermomechanics: Fundamentals and Application in Data Storage Devices.- Applications of Heated Atomic Force Microscope Cantilevers.