Avaliação de um parâmetro de conversor A/D - Jain, Manish
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O teste do ADC é uma atividade importante que desempenha um papel importante na decisão da precisão de um sistema. Muitas aplicações observam a medição usando o ADC. Tal aplicação implica alta precisão e resolução, sendo assim fornecida pelo alcance dinâmico do sinal. Os valores dos parâmetros do ADC podem ser melhorados no futuro, aumentando o número de amostras, a frequência e o overdrive. O algoritmo de teste pode ser aplicado à análise experimental do ADC em tempo real. Algoritmo de densidade de código modificado que reduz o efeito dos erros nos dados do histograma. Este algoritmo pode…mehr

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Produktbeschreibung
O teste do ADC é uma atividade importante que desempenha um papel importante na decisão da precisão de um sistema. Muitas aplicações observam a medição usando o ADC. Tal aplicação implica alta precisão e resolução, sendo assim fornecida pelo alcance dinâmico do sinal. Os valores dos parâmetros do ADC podem ser melhorados no futuro, aumentando o número de amostras, a frequência e o overdrive. O algoritmo de teste pode ser aplicado à análise experimental do ADC em tempo real. Algoritmo de densidade de código modificado que reduz o efeito dos erros nos dados do histograma. Este algoritmo pode alcançar o mesmo nível de precisão que o algoritmo convencional de densidade de código, mas usando um número significativamente menor de amostras, o que significa menor tempo de teste e menor custo de teste. O novo método é muito eficiente e pode ser usado para permitir o teste de ADCs de alta resolução com melhor cobertura e reduzir o tempo e o custo do teste de ADCs de média resolução. Inteligência Artificial foi usada para traduzir este livro.
Autorenporträt
Dr. MANISH JAIN Associate Professor, EEE Department, Mandsaur University, Mandsaur (M.P.) obtained PhD in 2015 in ECE. He has published more than 30 papers in International journal and listed in IEEE conference Proceedings. Under his guidance Student projects have been sanctioned for Financial Assistance by Department of Science & Technology (DST)