Avaliação teórica da reflectância em filmes finos AL/SiO2 - Ortega Cabrera, Jesús Javier
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A melhoria das propriedades ópticas de um material, como a reflectância, envolve a complexa busca dos parâmetros experimentais ideais no processo de obtenção dos mesmos. O uso de software computacional para a simulação destes processos de crescimento de película fina representa um benefício substancial devido à não dependência de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades físicas envolvidas. Além disso, há uma necessidade na indústria automotiva, a Varroc Lighting Systems© recebeu a tarefa de melhorar a reflectância dos faróis aluminizados, por…mehr

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Produktbeschreibung
A melhoria das propriedades ópticas de um material, como a reflectância, envolve a complexa busca dos parâmetros experimentais ideais no processo de obtenção dos mesmos. O uso de software computacional para a simulação destes processos de crescimento de película fina representa um benefício substancial devido à não dependência de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades físicas envolvidas. Além disso, há uma necessidade na indústria automotiva, a Varroc Lighting Systems© recebeu a tarefa de melhorar a reflectância dos faróis aluminizados, por isso realizamos o desenvolvimento, utilizando o software NASCAM®, que utiliza o método cinético Monte Carlo para desenvolver um modelo do sistema físico a ser estudado em escala nanométrica, isto nos permitirá analisar a influência de diferentes magnitudes que podem afetar a reflectância do material.
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Autorenporträt
Jesús Javier Ortega Cabrera: Master in de ingenieurswetenschappen met oriëntatie op materialen, School voor mechanische en elektrische engineering, Universidad Autónoma de Nuevo León.