Badanie DPM w ró¿nie domieszkowanych nanocz¿stkach lutu SAC305 bez Pb - Che Ani, Fakhrozi; Abas, Mohamad Aizat; Ahmad, Ibrahym
44,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 1-2 Wochen
payback
22 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

W¿¿czenie nanocz¿stek do lutu bezo¿owiowego, trajektoria nanocz¿stek podczas procesu lutowania musi by¿ monitorowana, poniewä b¿dzie miäa wp¿yw na tworzenie si¿ wysoko¿ci spoiny, warstwy zwi¿zków mi¿dzymetalicznych (IMC) i tworzenie si¿ mikro pustek. Dwukierunkowe interakcje wykorzystuj¿ce zarówno metod¿ obj¿to¿ci p¿ynu (VOF) jak i metod¿ fazy dyskretnej (DPM) zostäy wprowadzone w obecnym badaniu, aby uwzgl¿dni¿ interakcj¿ pomi¿dzy nanocz¿stkami i stopionym lutem. Nanocz¿stki wzmocnione, które s¿ wprowadzane do lutu SAC305 to nanocz¿stki tlenku tytanu (TiO2), tlenku niklu (NiO) i tlenku ¿elaza…mehr

Andere Kunden interessierten sich auch für
Produktbeschreibung
W¿¿czenie nanocz¿stek do lutu bezo¿owiowego, trajektoria nanocz¿stek podczas procesu lutowania musi by¿ monitorowana, poniewä b¿dzie miäa wp¿yw na tworzenie si¿ wysoko¿ci spoiny, warstwy zwi¿zków mi¿dzymetalicznych (IMC) i tworzenie si¿ mikro pustek. Dwukierunkowe interakcje wykorzystuj¿ce zarówno metod¿ obj¿to¿ci p¿ynu (VOF) jak i metod¿ fazy dyskretnej (DPM) zostäy wprowadzone w obecnym badaniu, aby uwzgl¿dni¿ interakcj¿ pomi¿dzy nanocz¿stkami i stopionym lutem. Nanocz¿stki wzmocnione, które s¿ wprowadzane do lutu SAC305 to nanocz¿stki tlenku tytanu (TiO2), tlenku niklu (NiO) i tlenku ¿elaza (III) (Fe2O3) o przybli¿onej ¿rednicy ¿20nm w ró¿nych procentach wagowych 0,01, 0,05 i 0,15 % mas.% do zastosowania w ultra drobnym kondensatorze typu 01005. Zarówno badania eksperymentalne jak i symulacyjne zostäy przeprowadzone w celu porównania wäno¿ci nowej symulacji opartej na DPM. Wyniki uzyskane z eksperymentu mog¿ skutecznie zobrazowä rozk¿ad nanocz¿stek na ko¿cu procesu rozp¿ywowego. Symulacja DPM z drugiej strony jest w stanie pokazä szczegó¿ow¿ trajektori¿ nanocz¿stek w trakcie procesu rozp¿ywu termicznego SAC305.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Autorenporträt
Recibió un doctorado en Filosofía del Instituto de Microingeniería y Nanoelectrónica, UKM, Malasia. Ha trabajado durante 25 años en la tecnología de montaje superficial y ha sido un campeón con numerosos descubrimientos de causas fundamentales y análisis en aplicaciones electrónicas. Ha publicado más de 45 artículos de investigación (Science Direct, Emerald, Springer, Elsevier e IEEE).