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Band 5

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Aus der Reihe Methods of Surface Characterization

146,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

06.12.2010

Abbildungen

XX, 430 p.

Herausgeber

Alvin W. Czanderna + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

430

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,5 cm

Gewicht

656 g

Auflage

2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-3299-0

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

06.12.2010

Abbildungen

XX, 430 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

430

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,5 cm

Gewicht

656 g

Auflage

2002

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-3299-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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