Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs
-
- Englisch ausgewählt
66,99 €
UVP
79,00 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
22.06.2010
Verlag
LAP LAMBERT Academic PublishingSeitenzahl
224
Maße (L/B/H)
22/15/1,5 cm
Gewicht
352 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-8383-6404-9
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für dein Feedback
Wir nutzen dein Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte habe Verständnis, dass wir dir keine Rückmeldung geben können. Falls du Kontakt mit uns aufnehmen möchtest, kannst du dich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice