Questo studio utilizza esperimenti di caratterizzazione a raggi X per comprendere le problematiche della scienza dei materiali agli attuali estremi di elevata purezza e bassa deformazione nel diamante sintetico di tipo IIa HPHT. Questo tipo di diamante presenta impurità inferiori a 10ppb e ampie aree in cui il disorientamento effettivo (la deviazione dell'angolo di Bragg locale nelle parti deformate del cristallo rispetto a quello nella regione perfetta) del reticolo è dell'ordine di 10-8. Il primo obiettivo è stato quindi quello di caratterizzare i diamanti sintetici HPHT di tipo IIa in questo limite di elevata purezza e bassa deformazione, e di comprendere la natura dei difetti e il loro contributo alle deformazioni a lungo raggio. È emerso che si tratta di un compito non banale, che richiederà l'impiego di tecniche a raggi X estremamente sensibili. Questa ricerca offre un'opportunità unica per comprendere la scienza dei materiali del diamante nel regno dei cristalli a bassa deformazione. Si prevede che l'essenziale semplicità dei difetti e la purezza del materiale consentiranno di effettuare esperimenti riproducibili, che siano facilmente interpretabili a livello teorico. Questo è stato a lungo un obiettivo della fisica del diamante.