Conception et Fiabilité des Amplificateurs de Puissance Millimétriques - Quémerais, Thomas
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Avec l'émergence d'applications millimétriques (radar automobile ou le WHDMI...), la fiabilité est devenue un enjeu extrêmement important pour l'industrie. Dans un émetteur/récepteur radio, les problèmes de fiabilité concernent principalement les transistors MOS intégrés dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement élevé des puissances. Ces composants sont susceptibles de se détériorer fortement par le phénomène de l'injection de porteurs chauds impactant lourdement les performances des amplificateurs. Ce travail concerne la conception et l'étude de la fiabilité…mehr

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Produktbeschreibung
Avec l'émergence d'applications millimétriques (radar automobile ou le WHDMI...), la fiabilité est devenue un enjeu extrêmement important pour l'industrie. Dans un émetteur/récepteur radio, les problèmes de fiabilité concernent principalement les transistors MOS intégrés dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement élevé des puissances. Ces composants sont susceptibles de se détériorer fortement par le phénomène de l'injection de porteurs chauds impactant lourdement les performances des amplificateurs. Ce travail concerne la conception et l'étude de la fiabilité de ces circuits en technologies CMOS avancées. Le livre est articulé autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l'étude, la conception, la modélisation et la caractérisation des éléments actifs et passifs intégrés sur silicium et utilisés pour réaliser des amplificateurs de puissance aux fréquences millimétriques. Le troisième chapitre décrit les trois amplificateurs de puissance conçus et réalisés pour les tests de fiabilité. Le dernier chapitre propose une étude complète de la fiabilité de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie.
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Autorenporträt
Thomas Quemerais est née le 20 mai 1982 à Guérande en France ethabite actuellement près de Grenoble en France. Il a obtenu sonMaster Recherche (M.S. degree) en Physique des Semi-conducteursOptique et Radiofréquences en 2007. Il travaille actuellementchez STMicroelectronics à Crolles dans l¿équipe de fiabilité etcaractérisation électrique (ECR)