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Le texte écrit ci-dessous décrit un processus expérimental, qui peut servir de manuel aux professionnels ou même aux industriels qui souhaiteraient reproduire la méthode de Kelvin ou de 4 points sous des caractéristiques similaires à celles décrites ci-dessous, afin d'obtenir des propriétés électriques dans des matériaux conducteurs et semi-conducteurs. Ce texte ne montre pas seulement l'équipement utilisé, mais montre aussi intrinsèquement l'importance de disposer d'équipements et de dispositifs qui peuvent être appliqués facilement et rapidement pour obtenir des valeurs micro, voire…mehr

Produktbeschreibung
Le texte écrit ci-dessous décrit un processus expérimental, qui peut servir de manuel aux professionnels ou même aux industriels qui souhaiteraient reproduire la méthode de Kelvin ou de 4 points sous des caractéristiques similaires à celles décrites ci-dessous, afin d'obtenir des propriétés électriques dans des matériaux conducteurs et semi-conducteurs. Ce texte ne montre pas seulement l'équipement utilisé, mais montre aussi intrinsèquement l'importance de disposer d'équipements et de dispositifs qui peuvent être appliqués facilement et rapidement pour obtenir des valeurs micro, voire nanométriques, fiables et concrètes de ces propriétés.En même temps, le développement et l'application de la méthode utilisant la source de mesure, un dispositif primaire qui sert d'équipement de contrôle de la magnitude physique appliquée (courant électrique), nécessitent son utilisation correcte. Ce texte donne également une brève explication de l'utilisation de la source et de certaines de ses caractéristiques.
Autorenporträt
Emmanuel Espinosa de la BorbollaEngenheiro de Energia, Universidade Autônoma Metropolitana do México.Enrique Barrera CalvaProfessor/Pesquisador. Universidade Autônoma Metropolitana. Cidade do MéxicoCarlos Álvarez MacíasProfessor/Pesquisador. Instituto Tecnológico de La Laguna, Torreón, Coahuila.