Contouringverfahren mit getrennten Laserquellen - Dickl, Stefan
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Die Bedeutung der optischen Messtechnik für die Industrie und Forschung nimmt stetig zu. Gerade in der drei dimensionalen Datenerfassung bieten optische Messmethoden bedeutende Vorteile wie z.B.: Berührungslosigkeit, Prazision und hohe Genauigkeit. Kenntnisse über die Verformung eines Objekts während einer Belastung oder die exakte Kontur, also Form, sind in vielen Bereichen unverzichtbar. Ein Gebiet der optischen Messtechnik ist die Elektronische Speckle Pattern Interferometrie. Sie nutzt den durch monochromatisches Licht hervorgerufenen Speckle-Effekt zur Auswertung der beleuchteten…mehr

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Produktbeschreibung
Die Bedeutung der optischen Messtechnik für die Industrie und Forschung nimmt stetig zu. Gerade in der drei dimensionalen Datenerfassung bieten optische Messmethoden bedeutende Vorteile wie z.B.: Berührungslosigkeit, Prazision und hohe Genauigkeit. Kenntnisse über die Verformung eines Objekts während einer Belastung oder die exakte Kontur, also Form, sind in vielen Bereichen unverzichtbar. Ein Gebiet der optischen Messtechnik ist die Elektronische Speckle Pattern Interferometrie. Sie nutzt den durch monochromatisches Licht hervorgerufenen Speckle-Effekt zur Auswertung der beleuchteten Werkstuecke, bezueglich Deformation oder Kontur. Diese Arbeit stellt ein Verfahren zur Konturvermessung dar. Dafür werden zwei unterschiedliche Laserfrequenzen verwendet, welche aus getrennten Quellen stammen.Das Ergebnis der Arbeit ist die Darstellung der Möglichkeiten des Verfahrens, beim Gebrauch von getrennten Laserquellen. Dieses Buch richtet sich an Studierende mit Schwerpunkt in der Bildverarbeitung und optischen Messtechnik.
Autorenporträt
Dickl, Stefan§Stefan Dickl, Studium zum Diplom Ingenieur im Studiengang Photoingenieurwesen, Fachrichtung Industrielle Bildverarbeitung an der Fachhochschule Köln, Abschluss 2007. Applikationsingenieur für industrielle Bildverarbeitung.