V poslednie gody obnaruzhiwaetsq znachitel'nyj interes k izucheniü relaxacionnyh swojstw razuporqdochennyh sistem, chto swqzano, po-widimomu, s wozmozhnost'ü opredeleniq mikroparametrow putem analiza kineticheskih zawisimostej issleduemogo polqrizacionnogo processa. Predstawlenie äxperimental'nyh dannyh po takim materialam oslozhneno w bol'shinstwe sluchaew nalichiem shirokogo chastotnogo spektra relaxiruüschih komplexow, chto w itoge mozhet priwodit' k neodnoznachnoj teoreticheskoj interpretacii poluchennyh dannyh. Nastoqschaq rabota poswqschena analizu rezul'tatow teoreticheskogo i äxperimental'nogo issledowaniq kinetiki polqrizacionnyh processow w polikristallicheskoj metallooxidnoj (Vi¿Pb¿O, Pb¿O) i stekloobraznoj (As¿Se) poluprowodnikowyh sistemah s soderzhaniem odinochnoj älektronnoj pary, perspektiwnyh dlq izgotowleniq älementow optoälektroniki i nositelej opticheskoj informacii.
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