39,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
  • Broschiertes Buch

Rassmotreny metody diagnostirovaniya tehnicheskih ustrojstv, modeliruemyh jelektricheskimi cepyami na osnove logicheskogo analiza topologii ob#ekta. Privedena metodika poiska defektov v razvetvlennyh jelektricheskih cepyah vysokoj razmernosti. Dana ocenka pogreshnostej na osnove analiza obuslovlennosti topologicheskih matric. Rassmotrena model' i metodika diagnostirovaniya jelektricheskih shem metodom izovar, a takzhe testirovanie kombinacionnyh shem na osnove postroeniya matricanta diagnostirovaniya. Mozhet byt' polezna specialistam, rabotajushhim v oblasti tehnicheskoj diagnostiki.

Produktbeschreibung
Rassmotreny metody diagnostirovaniya tehnicheskih ustrojstv, modeliruemyh jelektricheskimi cepyami na osnove logicheskogo analiza topologii ob#ekta. Privedena metodika poiska defektov v razvetvlennyh jelektricheskih cepyah vysokoj razmernosti. Dana ocenka pogreshnostej na osnove analiza obuslovlennosti topologicheskih matric. Rassmotrena model' i metodika diagnostirovaniya jelektricheskih shem metodom izovar, a takzhe testirovanie kombinacionnyh shem na osnove postroeniya matricanta diagnostirovaniya. Mozhet byt' polezna specialistam, rabotajushhim v oblasti tehnicheskoj diagnostiki.
Autorenporträt
Avtor - doktor tehnicheskih nauk,professor. Imeet 170 nauchnyh i uchebno-metodicheskih rabot, 10 monografij, patenty na izobretenie. Oblast' nauchnyh interesov - modelirovanie, identifikaciya i diagnostika sistem.