Diagnóstico de Fallas en Sistemas de Manufactura - Reyes Luévano, Juan
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La motivación de este trabajo surge de la necesidad de detectar y aislar fallas en sistemas de manufactura flexible, con el propósito de disminuir el tiempo de paro de proceso que se origina tras una condición de falla, en la parte operativa de estos sistemas. La investigación tiene como marco de referencia la teoría de redes complejas, y aborda el problema desde el enfoque estructural y dinámico de un modelo de red. En este contexto, se describe un análisis estructural del modelo de red compleja de una línea de proceso de enlatado (caso de estudio), que revela en estos sistemas, una extrema…mehr

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Produktbeschreibung
La motivación de este trabajo surge de la necesidad de detectar y aislar fallas en sistemas de manufactura flexible, con el propósito de disminuir el tiempo de paro de proceso que se origina tras una condición de falla, en la parte operativa de estos sistemas. La investigación tiene como marco de referencia la teoría de redes complejas, y aborda el problema desde el enfoque estructural y dinámico de un modelo de red. En este contexto, se describe un análisis estructural del modelo de red compleja de una línea de proceso de enlatado (caso de estudio), que revela en estos sistemas, una extrema vulnerabilidad a fallas provocadas y una tolerancia aceptable a fallas aleatorias. Cabe agregar, que se expone un enfoque de detección y aislamiento de fallas en redes complejas homogéneas, basado en el análisis de la simetría estructural de interrelación y simetría dinámica. Finalmente, se presenta el desarrolló un sistema de monitoreo y adquisición de señales en LabVIEW(TM) 2014, basado en los esquemas tratados. Un aspecto interesante es la existencia de fenómenos como auto regulación, organización y simetría; en una Red Compleja; los cuales pueden ser observados en distintos sistemas reales.
Autorenporträt
Recibió el grado de Ingeniero en Electrónica (2015) y Maestro en Ciencias de la Ingeniería (2018) por el Instituto Tecnológico de Aguascalientes, México. Su campo de estudio es el diagnóstico de fallas en Sistemas de Manufactura, Modelado de Sistemas Complejos a través de Redes Complejas, control y fenómenos emergentes de Redes Complejas.