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El proceso de pruebas electrónicas es vital durante el diseño y desarrollo de sistemas, así como durante el servicio para mantener el funcionamiento del sistema. Las metodologías de prueba se clasifican en analógicas, digitales y de señal mixta en función de la naturaleza del sistema. La implementación de un método de prueba para circuitos analógicos sigue siendo una tarea difícil debido a la inexistencia de técnicas bien desarrolladas y al creciente nivel de complejidad de los circuitos. Este libro sobre Diagnóstico de fallos de circuitos analógicos lineales y no lineales ayuda a los lectores o investigadores a comprender bien los conceptos fundamentales que subyacen a las pruebas de circuitos analógicos. Abarca el diagnóstico de fallos de circuitos analógicos lineales y no lineales. Orienta al lector sobre los retos de las pruebas, los modelos de fallos y la clasificación de los métodos de diagnóstico de fallos. Presenta el estado del arte en el diagnóstico de fallos de circuitos analógicos lineales y no lineales y los resultados experimentales de algunos de los métodos de diagnóstico de fallos.