Yu, Y: Diffusion Reactions at Metal-Oxide Interfaces
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Verlag
VDMSeitenzahl
196
Maße (L)
22 cm
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-639-12906-9
carried out on a model metal oxide interface to
understand diffusion reactions and the effect of an
external electric field across the interface. The
author has focused on investigating the formation of
a reaction phase, morphological changes, and
redistribution of ions at the interface. It
demonstrates that the morphology, the spatial
distribution of ions, and consequently, the
metal oxide bonding can be substantially modified by
annealing at elevated temperatures, and that the
effect of annealing can be strongly enhanced or
hindered by applying an electric field. Since
metal oxide adhesion and the fracture energy
sensitively depend on the spatial distribution
of atomic species and the interface morphology, the
results presented in this book suggest that
annealing - in particular under applied electric
fields - can have profound effects on the
technologically important properties of metal oxide
interfaces.
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