Andere Kunden interessierten sich auch für
![Materialowedenie i Tehnologii Sowremennyh i Perspektiwnyh Materialow]( "Materialowedenie i Tehnologii Sowremennyh i Perspektiwnyh Materialow")
Materialowedenie i Tehnologii Sowremennyh i Perspektiwnyh Materialow55,99 €![Modelirowanie i kontrol' odnowremennogo proizwodstwa älektroänergii]( "Modelirowanie i kontrol' odnowremennogo proizwodstwa älektroänergii")
Modelirowanie i kontrol' odnowremennogo proizwodstwa älektroänergii29,99 €![Kontrol' mikrosistem älektromagnitnym polem i kwantowymi izmereniqmi]( "Kontrol' mikrosistem älektromagnitnym polem i kwantowymi izmereniqmi")
Kontrol' mikrosistem älektromagnitnym polem i kwantowymi izmereniqmi56,99 €![Kontrol' magnitnyh swojstw pri proizwodstwe älektrotehnicheskih izdelij]( "Kontrol' magnitnyh swojstw pri proizwodstwe älektrotehnicheskih izdelij")
Kontrol' magnitnyh swojstw pri proizwodstwe älektrotehnicheskih izdelij48,99 €![Spektral'naq fazowaq interferometriq]( "Spektral'naq fazowaq interferometriq")
Spektral'naq fazowaq interferometriq26,99 €![Nowye pribory i metodiki razrabotannye F. F. Mende]( "Nowye pribory i metodiki razrabotannye F. F. Mende")
Nowye pribory i metodiki razrabotannye F. F. Mende23,99 €![Metodika rascheta älektromagnitnoj sowmestimosti na zheleznyh dorogah]( "Metodika rascheta älektromagnitnoj sowmestimosti na zheleznyh dorogah")
Metodika rascheta älektromagnitnoj sowmestimosti na zheleznyh dorogah23,99 €
Monografiya posvyashhena razrabotke difrakcionnyh metodov kontrolya tehnologicheskih parametrov voloknistyh materialov (tkan', trikotazh, niti, polufabrikaty pryadil'nogo proizvodstva). Predlozheny tri gruppy metodov. Apparatnyj, kogda o kontroliruemyh parametrah sudyat po rasstoyaniju mezhdu sosednimi maximumami v difrakcionnoj kartine Fraungofera, nabljudaemoj pri lazernom osveshhenii issleduemogo materiala ili ego izobrazheniya na svetopropuskajushhej podlozhke, i dva bezapparatnyh metoda, kogda o kontroliruemyh parametrah sudyat po difrakcionnoj kartine, rasschitannoj komp'juterom po cifrovomu izobrazheniju issleduemogo materiala. Prednaznachena dlya aspirantov sootvetstvujushhih disciplin i inzhenerno-tehnicheskih specialistov, rabotajushhih v oblasti komp'juternogo kontrolya strukturnyh parametrov volokno-soderzhashhih materialov.