Andere Kunden interessierten sich auch für
![Un bist logico affidabile con approccio scalabile]( "Un bist logico affidabile con approccio scalabile")
Un bist logico affidabile con approccio scalabile26,99 €![Uma lista lógica fiável com abordagem escalável]( "Uma lista lógica fiável com abordagem escalável")
Uma lista lógica fiável com abordagem escalável26,99 €![Nadezhnyj logicheskij bist s masshtabiruemym podhodom]( "Nadezhnyj logicheskij bist s masshtabiruemym podhodom")
Nadezhnyj logicheskij bist s masshtabiruemym podhodom13,99 €![A reliable logic bist with scalable approach]( "A reliable logic bist with scalable approach")
A reliable logic bist with scalable approach26,99 €![Ein wirksamer Ansatz zur Minimierung des Energieverbrauchs]( "Ein wirksamer Ansatz zur Minimierung des Energieverbrauchs")
Ein wirksamer Ansatz zur Minimierung des Energieverbrauchs43,90 €![EIN UMFASSENDER ANSATZ ZUR ENTWICKLUNG INTELLIGENTER SYSTEME]( "EIN UMFASSENDER ANSATZ ZUR ENTWICKLUNG INTELLIGENTER SYSTEME")
EIN UMFASSENDER ANSATZ ZUR ENTWICKLUNG INTELLIGENTER SYSTEME61,90 €![Ein neuer Ansatz für Frequenzmultiplexing]( "Ein neuer Ansatz für Frequenzmultiplexing")
Ein neuer Ansatz für Frequenzmultiplexing43,90 €
Wir schlagen einen neuartigen, skalierbaren Ansatz zur Verringerung der TE während des At-Speed-Tests von sequentiellen Schaltungen mit scan-basiertem LBIST unter Verwendung des Launch-on-Capture-Schemas vor. Dies wird durch die Verringerung des Aktivitätsfaktors der CUT erreicht, indem die von der LBIST erzeugten Testvektoren für sequenzielle ICs entsprechend modifiziert werden. Die Erzeugung eines signifikanten Leistungsabfalls (PD) während des von Logic Built-In Self Test (LBIST) durchgeführten At-Speed-Tests ist ein ernstes Problem für moderne ICs.