Gerhard Schimmel
Elektronenmikroskopische Methodik
Gerhard Schimmel
Elektronenmikroskopische Methodik
- Buch
Produktdetails
- Verlag: Springer
- ISBN-13: 9783540046998
- Artikelnr.: 66530755
1. Elektronenstrahlen.- 2. Einführung in die Theorie des Mikroskopes.- 2.1. Wechselwirkung zwischen Strahlung und Materie.- 2.2. Die Bildentstehung im Durchstrahlungsmikroskop.- 3. Beugung am Raumgitter.- 3.1. Geometrische Theorie.- 3.2. Anwendung der geometrischen Theorie auf Röntgen- und Elektronenstrahlen.- 3.3. Intensität der Beugungsreflexe.- 3.4. Aufnahmeverfahren.- 3.5. Auswertung von Beugungsaufnahmen.- 3.6. Oberflächenbeugung.- 4. Beugungskontraste.- 4.1. Allgemeines.- 4.2. Interferenzschlieren oder Extinktionslinien.- 4.3. Streifen gleicher Neigung und Dicke.- 4.4. Gitterfehler.- 4.5. Moiré-Muster.- 4.6. Ausblick auf die dynamische Theorie.- 5. Auflösungsgrenze, Gesichtsfeld und Schärfentiefe.- 5.1. Die Auflösungsgrenze.- 5.2. Das Gesichtsfeld.- 5.3. Die Schärfentiefe.- 6. Abdruckverfahren.- 6.1. Der Abdruck als Abbildung.- 6.2. Kontrastverhältnisse.- 6.3. Schrägbedampfung (Beschattung).- 6.4. Herstellung der wichtigsten Abdrucke.- 6.5. Auflösungsgrenze von Abdruckpräparaten.- 6.6. Anwendungsbeispiele.- 6.7. Zielpräparationen.- 6.8. Dekorationsverfahren.- 7. Zeitauflösung.- 8. Kombination von Beobachtungsverfahren.- 8.1. Grundsätzliches.- 8.2. Beispiele.- 9. Korngrößen und Korngrößenverteilungen.- 9.1. Mikroskopische Korngrößenanalysen.- 9.2. Einfluß des Präparationsverfahrens.- 9.3. Darstellung der Ergebnisse und Fehlerbetrachtung.- 9.4. Das Tomatensalat-Problem.- 9.5. Nichtmikroskopische Verfahren zur Korngrößenbestimmung.- 10. Artefakte und Strahlschäden.- 10.1. Artefakte.- 10.2. Strahlschäden.- Literatur.
1. Elektronenstrahlen.- 2. Einführung in die Theorie des Mikroskopes.- 2.1. Wechselwirkung zwischen Strahlung und Materie.- 2.2. Die Bildentstehung im Durchstrahlungsmikroskop.- 3. Beugung am Raumgitter.- 3.1. Geometrische Theorie.- 3.2. Anwendung der geometrischen Theorie auf Röntgen- und Elektronenstrahlen.- 3.3. Intensität der Beugungsreflexe.- 3.4. Aufnahmeverfahren.- 3.5. Auswertung von Beugungsaufnahmen.- 3.6. Oberflächenbeugung.- 4. Beugungskontraste.- 4.1. Allgemeines.- 4.2. Interferenzschlieren oder Extinktionslinien.- 4.3. Streifen gleicher Neigung und Dicke.- 4.4. Gitterfehler.- 4.5. Moiré-Muster.- 4.6. Ausblick auf die dynamische Theorie.- 5. Auflösungsgrenze, Gesichtsfeld und Schärfentiefe.- 5.1. Die Auflösungsgrenze.- 5.2. Das Gesichtsfeld.- 5.3. Die Schärfentiefe.- 6. Abdruckverfahren.- 6.1. Der Abdruck als Abbildung.- 6.2. Kontrastverhältnisse.- 6.3. Schrägbedampfung (Beschattung).- 6.4. Herstellung der wichtigsten Abdrucke.- 6.5. Auflösungsgrenze von Abdruckpräparaten.- 6.6. Anwendungsbeispiele.- 6.7. Zielpräparationen.- 6.8. Dekorationsverfahren.- 7. Zeitauflösung.- 8. Kombination von Beobachtungsverfahren.- 8.1. Grundsätzliches.- 8.2. Beispiele.- 9. Korngrößen und Korngrößenverteilungen.- 9.1. Mikroskopische Korngrößenanalysen.- 9.2. Einfluß des Präparationsverfahrens.- 9.3. Darstellung der Ergebnisse und Fehlerbetrachtung.- 9.4. Das Tomatensalat-Problem.- 9.5. Nichtmikroskopische Verfahren zur Korngrößenbestimmung.- 10. Artefakte und Strahlschäden.- 10.1. Artefakte.- 10.2. Strahlschäden.- Literatur.