L. Reimer

Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden

• Broschiertes Buch

Produktdetails

• Verlag: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin
• Artikelnr. des Verlages: 978-3-642-86558-9
• 2. Aufl.
• Seitenzahl: 612
• Erscheinungstermin: 27. August 2012
• Deutsch
• Abmessung: 235mm x 155mm x 33mm
• Gewicht: 926g
• ISBN-13: 9783642865589
• ISBN-10: 3642865585
• Artikelnr.: 39156728

Inhaltsangabe

A. Untersuchungsmethoden.- 1. Elektronenoptische Grundlagen des Durchstrahlungsmikroskopes.- 2. Prinzipieller Aufbau des Durchstrahlungsmikroskopes.- 3. Andere Abbildungsverfahren.- 4. Messung wichtiger optischer Konstanten.- 5. Elektronenbeugung.- 6. Bildkontrast in amorphen Objekten.- 7. Phasenkontrast und verwandte Probleme.- 8. Bildkontrast in kristallinen Objekten.- 9. Präparatveränderungen unter Elektronenbestrahlung.- 10. Bildaufzeichnung und Intensitätsmessungen.- 11. Ermittlung der dritten Dimension von elektronenmikroskopischen Präparaten.- 12. Abbildung magnetischer und elektrischer Objektfelder.- B. Präparationsmethoden.- 13. Objektblenden und Trägernetze.- 14. Grundlagen der Hochvakuum- und Aufdampftechnik.- 15. Herstellung und Eigenschaften von Trägerfolien.- 16. Oberflächenabdrücke.- 17. Herstellung durchstrahlbarer Folien aus Metallen und anderen Kristallen.- 18. Präparation von Pulvern, Suspensionen, Stäuben und Aerosolen.- 19. Gewebefixation.- 20. Kontrastierung und histochemische Methoden.- 21. Einbettung.- 22. Ultramikrotomie.- 23. Präparation organischer Teilchen (Fraktionen, Homogenisate, Bakterien, Phagen und Viren).- 24. Autoradiographie.- 25. Monographien über Elektronenmikroskopie.- 26. Bezugsquellen-Nachweis.- Namenverzeichnis.