Andere Kunden interessierten sich auch für
![MONITORING SOSTOYaNIYa CIFROVYH KAMER VO VREMYa KRASh-TESTOV AVTOMOBILEJ]( "MONITORING SOSTOYaNIYa CIFROVYH KAMER VO VREMYa KRASh-TESTOV AVTOMOBILEJ")
MONITORING SOSTOYaNIYa CIFROVYH KAMER VO VREMYa KRASh-TESTOV AVTOMOBILEJ32,99 €![Fotometriq i metrika displeew]( "Fotometriq i metrika displeew")
Fotometriq i metrika displeew38,99 €![Raschöt älektrosnabzheniq i älektrooborudowaniq zaschitnogo sooruzheniq]( "Raschöt älektrosnabzheniq i älektrooborudowaniq zaschitnogo sooruzheniq")
Raschöt älektrosnabzheniq i älektrooborudowaniq zaschitnogo sooruzheniq30,99 €![Dvukhkomponentnaya diel'kometriya sel'skokhozyaystvennykh materialov]( "Dvukhkomponentnaya diel'kometriya sel'skokhozyaystvennykh materialov")
Dvukhkomponentnaya diel'kometriya sel'skokhozyaystvennykh materialov51,99 €![Beskontaktnye sinhronnye mashiny. Jelektromagnitnye podshipniki]( "Beskontaktnye sinhronnye mashiny. Jelektromagnitnye podshipniki")
Beskontaktnye sinhronnye mashiny. Jelektromagnitnye podshipniki51,99 €![Jelektrodinamika i termodinamika yadernyh i trotilovyh vzryvov]( "Jelektrodinamika i termodinamika yadernyh i trotilovyh vzryvov")
Jelektrodinamika i termodinamika yadernyh i trotilovyh vzryvov44,99 €![Axiomaticheskaq älektrodinamika i nepolnota teorii älektrichestwa]( "Axiomaticheskaq älektrodinamika i nepolnota teorii älektrichestwa")
Axiomaticheskaq älektrodinamika i nepolnota teorii älektrichestwa39,99 €
Razvivaetsya predlozhennoe avtorom v kontse semidesyatykh godov proshlogo veka novoe napravlenie v ellipsometrii - ellipsometriya s binarnoy modulyatsiey sostoyaniya polyarizatsii. Privedeno opisanie razrabotannykh avtorami metodov izmereniy i original'nykh ustroystv polyarizatsionnoy optiki binarnykh modulyatorov sostoyaniya polyarizatsii i soosnykh akhromaticheskikh kompensatorov. Predstavleny rezul'taty nekotorykh issledovaniy, vypolnennykh na sozdannykh na ikh osnove pretsizionnykh spektral'nykh ellipsometrakh s binarnoy modulyatsiey sostoyaniya polyarizatsii. Otmechaetsya perspektivnost' shirokodiapazonnykh skaniruyushchikh i mnogokanal'nykh svetodiodnykh spektral'nykh ellipsometrov s binarnoy modulyatsiey. Monografiya mozhet stat' rukovodstvom pri vybore polyarizatsionnykh elementov, metodov i skhem ellipsometricheskikh izmereniy. Prednaznachena dlya nauchnykh rabotnikov, aspirantov, studentov sootvetstvuyushchikh spetsial'nostey. Tabl. 3. Ris. 59. Bibliogr.: 101 nazv.