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Este trabajo lo lleva a cabo el equipo SIAM (Espectroscopia e Imagen Atómica de Materiales) de la Universidad Cadi Ayyad. Se trata de utilizar la técnica SIPS para estudiar la luminiscencia de muestras de Ni, Cr, Ti y los óxidos NiO y Cr2O3. Los blancos se bombardean con iones Kr+ de 5 keV con un ángulo de 65° respecto a la normal, y el rango espectral explorado abarca desde el UV cercano hasta el visible. Los estudios que hemos llevado a cabo pueden resumirse como sigue: * Demostración de las emisiones ópticas de los productos de pulverización catódica de tres metales: níquel, cromo y titanio…mehr

Produktbeschreibung
Este trabajo lo lleva a cabo el equipo SIAM (Espectroscopia e Imagen Atómica de Materiales) de la Universidad Cadi Ayyad. Se trata de utilizar la técnica SIPS para estudiar la luminiscencia de muestras de Ni, Cr, Ti y los óxidos NiO y Cr2O3. Los blancos se bombardean con iones Kr+ de 5 keV con un ángulo de 65° respecto a la normal, y el rango espectral explorado abarca desde el UV cercano hasta el visible. Los estudios que hemos llevado a cabo pueden resumirse como sigue: * Demostración de las emisiones ópticas de los productos de pulverización catódica de tres metales: níquel, cromo y titanio y sus óxidos, bombardeados en el vacío (mejor que 10-7 torr). * Interpretación del efecto del oxígeno en los espectros de luminiscencia. * Examen y aplicación del modelo de intercambio de electrones. Estimación de la afinidad electrónica y del band gap de los óxidos.
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Autorenporträt
2012 - 2016: Doctorado en Física, especialidad en Ciencia de Materiales y Nanomateriales, Facultad de Ciencias.2009 - 2011: Máster en Física, especialidad en Ingeniería de Materiales, Energía y Medio Ambiente.2005 - 2008: Licenciatura en Física.2004 - 2005: Bachillerato, opción Ciencias Experimentales.