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Abbildende Verfahren wie die Röntgenmikroskopie werden in der zerstörungsfreien Werkstoffanalyse eingesetzt, um Auflösungen im Submikrometerbereich zu erreichen. Dort werden abbildende Optiken benötigt, wofür Röntgenlinsen für Photonenenergien oberhalb von 10 keV besonders gut geeignet sind. Damit solche Linsen universell mit konstanten optischen Eigenschaften über einen breiten Photonenenergiebereich einsetzbar sind, wurde in dieser Arbeit erstmalig eine Röntgenzoomlinse entwickelt. Imaging methods such as X-ray microscopy are used in non-destructive material analysis to achieve resolutions in the sub micrometer range. Imaging optics are required, for which X-ray lenses are particularly suitable for photon energies above 10 keV. To ensure the universal use of these lenses with constant optical properties over a wide photon energy range, for the first time an X-ray zoom lens was developed in this work.