Andere Kunden interessierten sich auch für
![IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958]( "IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958")
IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 195899,99 €![Anwendung der Nanotechnologie in für die Gesellschaft wichtigen Bereichen]( "Anwendung der Nanotechnologie in für die Gesellschaft wichtigen Bereichen")
Anwendung der Nanotechnologie in für die Gesellschaft wichtigen Bereichen79,90 €![Entwicklung neuartiger Mess- und Auswertungsstrategien für ein scannendes Wolkenradar und deren Anwendungsbereiche]( "Entwicklung neuartiger Mess- und Auswertungsstrategien für ein scannendes Wolkenradar und deren Anwendungsbereiche")
Entwicklung neuartiger Mess- und Auswertungsstrategien für ein scannendes Wolkenradar und deren Anwendungsbereiche38,00 €![Untersuchung der Schneidhaltigkeit neuartiger Schneidstoffe]( "Untersuchung der Schneidhaltigkeit neuartiger Schneidstoffe")
Untersuchung der Schneidhaltigkeit neuartiger Schneidstoffe54,99 €![Systematische Entwicklung neuartiger numerisch gesteuerter Fertigungssysteme für die Einzel- und Serienfertigung]( "Systematische Entwicklung neuartiger numerisch gesteuerter Fertigungssysteme für die Einzel- und Serienfertigung")
Systematische Entwicklung neuartiger numerisch gesteuerter Fertigungssysteme für die Einzel- und Serienfertigung54,99 €![Transmission Electron Microscopy]( "Transmission Electron Microscopy")
Transmission Electron Microscopy89,99 €![Struktur der Materie: Grundlagen, Mikroskopie und Spektroskopie]( "Struktur der Materie: Grundlagen, Mikroskopie und Spektroskopie")
Struktur der Materie: Grundlagen, Mikroskopie und Spektroskopie49,99 €
Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist eine leistungsfähige Methode zur Untersuchung der mikroskopischen Struktur von Materialien und Werkstoffen. Neue Geräteentwicklungen, wie etwa die Korrektur von Linsenfehlern und die Entwicklung brillanterer Elektronenquellen, haben die Leistungsfähigkeit der Mikroskope in jüngster Zeit erheblich gesteigert. Im gleichen Zug steigen damit auch die Anforderungen an die Probenpräparation, die die Qualität und Aussagekraft von TEM-Untersuchungen stark mitbestimmt und in vielen Fällen begrenzt. Dieses Buch beschäftigt sich mit der Anwendung und Entwicklung innovativer Präparationsverfahren für die Transmissionselektronenmikroskopie. Dazu wurden neuartige Methoden entwickelt und angewandt, um die steigenden Anforderungen an die Probenpräparation zu erfüllen. Im Rahmen mehrerer Kooperationen innerhalb des Erlanger Exzellenzclusters "Engineering of Advanced Materials" wurden diese Methoden auf unterschiedliche Materialsysteme und Bauelemente angewandt und detaillierte mikroskopische Untersuchungen durchgeführt, um zu einem tieferen Verständnis von Struktur-Eigenschaftsbeziehungen und damit zu einer Optimierung der Materialien beizutragen.