Hans Jörg Tafel

Entwurf und Aufbau eines Prüfplatzes für Leiterplattengeräte

• Broschiertes Buch

Produktbeschreibung

Die digitale Prüf technik muß mit der zunehmenden Komplexität digitaler Schaltungen Schritt halten. Die hochintegrierte Schaltungstechnik bewirkte, daß heute eine einzige Leiterplatte Funktionen erfüllt, für die man noch vor einigen Jahren Baugruppen im Schrankformat benötigte. Die digitale Prüf technik wird daher automatisiert. Algorithmisch erstellte Testsätze werden durch einen Prozeßrechner an die zu prüfende Leiterplatte angelegt und die Ergebnisse werden mit Sollwerten verglichen.Es wird eine Echtzeitprüfung angestrebt, denn nur sie gestattet eine Aussage über die Funktion der Leiter platte unter Betriebsbedingungen. Der hier vorgestellte Prüfplatz erfüllt die Forderungen nach Automatisierung und Echtzeitprüfung. An Hand von Beispielen wer den seine Leistungen nachgewiesen. - 3 - Inhalt Einleitung 1. 5 Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung 7 2. Elektrischer und mechanischer Aufbau 7 2. 1 2.2 Der Datentransfer 10 Arbeitsweise 2.3 1 1 Erweiterung des Prüfplatzes 2.4 16 DerPrüfplatz für Real-Time prüfung 24 3. 3.1 Ubersicht über den Hardware-Aufbau 24 3.2 Testmusterspeicher 27 3.3 Sequenzerbaustein 28 3.4 Interne Clock 29 3.5 Pinzuordnung 30 3.6 Vergleicher 31 3.7 Befehlsdecoder 32 3.8 Ubersicht über die Ansteuersoftware 34 Untersuchungen mit dem Prüfplatz für 4.

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Produktdetails

• Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 2995
• Verlag: VS Verlag für Sozialwissenschaften
• Artikelnr. des Verlages: 978-3-531-02995-5
• 1980
• Seitenzahl: 72
• Erscheinungstermin: 1. Januar 1980
• Deutsch
• Abmessung: 244mm x 170mm x 5mm
• Gewicht: 141g
• ISBN-13: 9783531029955
• ISBN-10: 3531029959
• Artikelnr.: 39615302

Inhaltsangabe

1. Einleitung.- 2. Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung.- 2.1 Elektrischer und mechanischer Aufbau.- 2.2 Der Datentransfer.- 2.3 Arbeitsweise.- 2.4 Erweiterung des Prüfplatzes.- 3. Der Prüfplatz für Real-Time Prüfung.- 3.1 Übersicht über den Hardware-Aufbau.- 3.2 Testmusterspeicher 2.- 3.3 Sequenzerbaustein.- 3.4 Interne Clock.- 3.5 Pinzuordnung.- 3.6 Vergleicher.- 3.7 Befehlsdecoder.- 3.8 Übersicht über die Ansteuersoftware.- 4. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für quasistatische Prüfung.- 4.1 Erkennungs- und Lokalisierungsleistung bei Kurzschlüssen zwischen Signalleitungen.- 4.2 Einflüsse der Technologie auf das Fehlerverhalten.- 5. Untersuchungen mit dem Prüfplatz für Real-Time - Prüfung.- 5.1 Erkennungsleistung bei kritischen Signallaufzeiten.- 5.2 Erkennungsleistung bei gegenseitiger Beeinflussung.- 6. Zusammenfassung.- 7. Literatur.