Europäisches Patentübereinkommen

Herausgegeben:Beckedorf, Ingo; Ehlers, Jochen;Mitarbeit:Beckedorf, Ingo; Ehlers, Jochen; Adam, Thomas; Bacchin, Anna; Birken, Lars; Fritsche, Rainer; Grabinski, Klaus; Henke, Volkmar; Irmscher, Tobias H.

• Buch mit Leinen-Einband

Produktbeschreibung

Zum WerkDer Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten NebenvorschriftenZur NeuauflageDie Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).ZielgruppeFür Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.

Produktdetails

• Beck'sche Kurz-Kommentare
• Verlag: Beck Juristischer Verlag
• 4. Aufl.
• Seitenzahl: 2142
• Erscheinungstermin: 17. Mai 2023
• Deutsch
• Abmessung: 243mm x 171mm x 59mm
• Gewicht: 1803g
• ISBN-13: 9783406761959
• ISBN-10: 340676195X
• Artikelnr.: 62501510