Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales - Zhang, John;Sun, Tao
23,99 €
inkl. MwSt.

Versandfertig in 6-10 Tagen
  • Broschiertes Buch

L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.

Andere Kunden interessierten sich auch für
Produktbeschreibung
L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.
Autorenporträt
John Zhang est professeur de mathématiques à l'université d'Indiana en Pennsylvanie. Il a obtenu son doctorat en mathématiques à l'université de Syracuse et possède des maîtrises en commerce, en statistiques et en informatique. Ses recherches portent principalement sur les domaines interdisciplinaires entre ces disciplines.