Produktbild: Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
- 13%

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

13% sparen

138,99 € UVP 160,49 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

17.09.2010

Abbildungen

X, 246 p.

Herausgeber

Amith Singhee + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

246

Maße (L/B/H)

24,2/16,4/2,7 cm

Gewicht

531 g

Auflage

2010 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6605-6

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

17.09.2010

Abbildungen

X, 246 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

246

Maße (L/B/H)

24,2/16,4/2,7 cm

Gewicht

531 g

Auflage

2010 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6605-6

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
  • Extreme Statistics in Memories.- Statistical Nano CMOS Variability and Its Impact on SRAM.- Importance Sampling-Based Estimation: Applications to Memory Design.- Direct SRAM Operation Margin Computation with Random Skews of Device Characteristics.- Yield Estimation by Computing Probabilistic Hypervolumes.- Most Probable Point-Based Methods.- Extreme Value Theory: Application to Memory Statistics.