Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica - Solanki, Vanarajsinh;Dasadiya, Dr. Abhay;Mishra, Pramita
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Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.…mehr

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Produktbeschreibung
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.
Autorenporträt
Il Dr. Vanaraj Solanki ha conseguito il suo master (M.Sc) in fisica (2008) presso la S. P. University, VVNagar, e il Ph.D presso l'Institute of Physics, Bhubaneswar, India. Ha anche lavorato al Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, durante il suo postdoc. Attualmente, il dottor Solanki lavora come ricercatore presso KRADLE, CHARUSAT, Changa.