Fundamentos y aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica - Solanki, Vanarajsinh; Dasadiya, Abhay; Mishra, Pramita
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Este libro se centra en el principio de funcionamiento del AFM, sus diferentes modos (es decir, modos de contacto, sin contacto y de golpeo), el análisis de algunos resultados del AFM y también algunas aplicaciones. Este libro también subraya las características del AFM como herramienta morfológica altamente versátil y útil para escanear una gran variedad de superficies, con una resolución plana que va desde las esclaes nanométricas hasta la escala atómica. Esperamos que este libro sea útil para que los investigadores y estudiantes comprendan el concepto básico del AFM y lo utilicen en diferentes tipos de muestras.…mehr

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Produktbeschreibung
Este libro se centra en el principio de funcionamiento del AFM, sus diferentes modos (es decir, modos de contacto, sin contacto y de golpeo), el análisis de algunos resultados del AFM y también algunas aplicaciones. Este libro también subraya las características del AFM como herramienta morfológica altamente versátil y útil para escanear una gran variedad de superficies, con una resolución plana que va desde las esclaes nanométricas hasta la escala atómica. Esperamos que este libro sea útil para que los investigadores y estudiantes comprendan el concepto básico del AFM y lo utilicen en diferentes tipos de muestras.
Autorenporträt
Il Dr. Vanaraj Solanki ha conseguito il suo master (M.Sc) in fisica (2008) presso la S. P. University, VVNagar, e il Ph.D presso l'Institute of Physics, Bhubaneswar, India. Ha anche lavorato al Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, durante il suo postdoc. Attualmente, il dottor Solanki lavora come ricercatore presso KRADLE, CHARUSAT, Changa.