B. Vincent Crist

Handbook of Monochromatic XPS Spectra, 3 Volume Set

• Gebundenes Buch

Produktbeschreibung

Das "Handbook of Monochromatic XPS Spectra" besteht aus den drei Bänden, The Elements and Native Oxides, Semiconductors und Polymers and Polymer Damage, die hier als Set preisgünstiger angeboten werden. Diese drei Bände sind eine in sich abgeschlossene Sammlung monochromatischer XPS-Spektren in der Hand - eine unentbehrliche Hilfe im Laboralltag vieler Analytiker! Einleitende Kapitel erläutern die verwendete instrumentelle Ausrüstung, die Proben und die Verfahren der Spektrenaufnahme. Im Spektrenteil sind alle Peaks beschriftet, die Spektren sind durch umfangreiches Datenmaterial (Atom-%-Tabellen, Bindungsenergien, Halbwertsbreite usw.) ergänzt. Ein Muß für jedes XPS-Labor! (11/00)

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Produktdetails

• Verlag: Wiley & Sons
• 1. Auflage
• Seitenzahl: 1570
• Erscheinungstermin: 19. Oktober 2000
• Englisch
• Abmessung: 221mm x 267mm x 99mm
• Gewicht: 4160g
• ISBN-13: 9780471498100
• ISBN-10: 0471498106
• Artikelnr.: 25143513

Autorenporträt

B. Vincent Crist is the author of Handbook of Monochromatic XPS Spectra, 3 Volume Set, published by Wiley.

Inhaltsangabe

Each volume contains a 20 page introductory section giving: Instrument
Details; Experimental Details; Data Processing Details; Sample Details
(source of the samples; benefits and drawbacks of powdered samples being
pressed into pellets); Energy Resolution Details; Energy Scale Reference
Energies and Calibration Details; Electron Counting and Instrument Response
Function Details; Effects of Poorly Focusing the Distance between the
Sample and Electron Collection Lense; Quantitation Details and Choice of
Sensitivity Exponent; Crude Tests of the Reliability of Relative
Sensitivity Factors; Traceability Details; Traceability of Reference
Binding Energies; Traceability Transfer from Pure Metals to Non-conductive
Binary Oxides; Traceability of Relative Sensitivity Factors for
Quantitation; Traceablity of Sample Purity; Reference Papers Describing the
Capabilities of X-probe, M-probe and S-probe XPS systems.
Includes wide scan and high energy resolution spectra for 76 elements and
the native oxides of 39 elements.
Among the many valuable features included in each of these handbooks are:
All Spectra are measured using AlK monochromatic X-rays.
All spectra are collected in a self consistent manner to maximise data
reliability and quality.
All peaks in the wide spectra are fully annotated and accompanied by
detailed atom % tables that report Bes for each of the labelled peaks.
Each high-energy resolution spectra is peak-fitted with detailed tables
containing binding energies, FWHMs and relative percentages.

Rezensionen

"...an invaluable collection..."
--Materials World, December 2000