B. Vincent Crist

Handbook of Monochromatic XPS Spectra

Semiconductors

• Gebundenes Buch

Produktbeschreibung

Das "Handbook of Monochromatic XPS Spectra" besteht aus den drei Bänden, The Elements and Native Oxides, Semiconductors und Polymers and Polymer Damage. Dies ist Band 2 "Semiconductors" des dreibändigen Nachschlagewerkes. Die drei Bände sind eine in sich abgeschlossene Sammlung monochromatischer XPS-Spektren in der Hand - eine unentbehrliche Hilfe im Laboralltag vieler Analytiker! Einleitende Kapitel erläutern die verwendete instrumentelle Ausrüstung, die Proben und die Verfahren der Spektrenaufnahme. Im Spektrenteil sind alle Peaks beschriftet, die Spektren sind durch umfangreiches Datenmaterial (Atom-%-Tabellen, Bindungsenergien, Halbwertsbreite usw.) ergänzt. Ein Muß für jedes XPS-Labor! (11/00)

Produktdetails

• Verlag: Wiley & Sons
• 1. Auflage
• Seitenzahl: 568
• Erscheinungstermin: 19. Oktober 2000
• Englisch
• Abmessung: 219mm x 263mm x 35mm
• Gewicht: 1500g
• ISBN-13: 9780471492665
• ISBN-10: 0471492663
• Artikelnr.: 09419455

Autorenporträt

B. Vincent Crist is the author of Handbook of Monochromatic XPS Spectra: Semiconductors, published by Wiley.

Inhaltsangabe

ORGANIZATION AND DETAILS OF SPECTRAL SETS. Alphabetical Organization of
Spectra. Contents of Each Set of Spectra. Philosophy of Data Collection
Methods. Peak-Fitting (Curve-Fitting) of High Energy Resolution Spectra.
Charge Compensation of Insulating Materials. Abbreviations Used. INSTRUMENT
AND ANALYSIS DETAILS USED TO MAKE SPECTRAL DATA. Instrument Details.
Experimental Details. Data Processing Details. Sample Details. Energy
Resolution Details. Energy Scale Reference Energies and Calibration
Details. Electron Counting and Instrument Response Function Details.
Effects of Poorly Focusing the Distance between the Sample and the Electron
Lens. Quantitation Details and Choice of 'Sensitivity Exponents'. Crude
Tests of the Reliability of Relative Sensitivity Factors. Traceability
Details. Reference Papers Describing the Capabilities of X-Probe, M-Probe,
and S-Probe XPS Systems.