30,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 1-2 Wochen
  • Broschiertes Buch

Entre las formas de energía renovables, la energía solar es una energía convincente, limpia y aceptable en todo el mundo. Las plantas solares fotovoltaicas, tanto las instaladas en el suelo como en tejados, están proliferando en todo el mundo. Uno de los retos más importantes es la identificación de fallos en los módulos solares fotovoltaicos, ya que la monitorización del estado de cada uno de los paneles de una planta de energía de gran tamaño resulta engorrosa.El objetivo de este proyecto es identificar el panel mediante un sistema de imagen térmica y procesar las imágenes térmicas…mehr

Produktbeschreibung
Entre las formas de energía renovables, la energía solar es una energía convincente, limpia y aceptable en todo el mundo. Las plantas solares fotovoltaicas, tanto las instaladas en el suelo como en tejados, están proliferando en todo el mundo. Uno de los retos más importantes es la identificación de fallos en los módulos solares fotovoltaicos, ya que la monitorización del estado de cada uno de los paneles de una planta de energía de gran tamaño resulta engorrosa.El objetivo de este proyecto es identificar el panel mediante un sistema de imagen térmica y procesar las imágenes térmicas utilizando la técnica de procesamiento de imágenes. Del mismo modo, se compararon los paneles solares fotovoltaicos nuevos y envejecidos en la técnica de procesamiento de imágenes para identificar cualquier fallo en el panel. Se grabará la imagen de los paneles envejecidos que contengan fallos y se analizará su rendimiento utilizando el software MATLAB. Este libro es el trabajo de los estudiantes B. Akhila, S. Keerthana, G.Meghana, K Meghana.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Autorenporträt
Renuka Devi S M, completado M.Tech(NITK), y Ph.D(HCU) en el área de procesamiento de imágenes. Ha publicado 35 artículos en conferencias internacionales en revistas y conferencias de renombre como IEEE, ACM y Springer Digital Libraries.