Predstawleny matematicheskie modeli informacionno - izmeritel'nyh i uprawlqüschih sistemy (IIUS) älektromehanicheskih komplexow (JeMK) s edinym istochnikom pitaniq (EIP). Rassmotreny pokazateli kachestwa IIUS razlichnyh JeMK s EIP dlq awtomatizirowannogo proizwodstwa (AP). Razrabotan weroqtnostno-ämpiricheskij metod analiza ustojchiwosti IIUS JeMK s EIP. Pokazana metodika opredeleniq i naladki tehnicheskih harakteristik i prowedeno äxperimental'noe issledowanie tehnicheskih harakteristik IIUS JeMK s EIP.
Bitte wählen Sie Ihr Anliegen aus.
Rechnungen
Retourenschein anfordern
Bestellstatus
Storno