36,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
payback
18 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Predstawleny matematicheskie modeli informacionno - izmeritel'nyh i uprawlqüschih sistemy (IIUS) älektromehanicheskih komplexow (JeMK) s edinym istochnikom pitaniq (EIP). Rassmotreny pokazateli kachestwa IIUS razlichnyh JeMK s EIP dlq awtomatizirowannogo proizwodstwa (AP). Razrabotan weroqtnostno-ämpiricheskij metod analiza ustojchiwosti IIUS JeMK s EIP. Pokazana metodika opredeleniq i naladki tehnicheskih harakteristik i prowedeno äxperimental'noe issledowanie tehnicheskih harakteristik IIUS JeMK s EIP.

Produktbeschreibung
Predstawleny matematicheskie modeli informacionno - izmeritel'nyh i uprawlqüschih sistemy (IIUS) älektromehanicheskih komplexow (JeMK) s edinym istochnikom pitaniq (EIP). Rassmotreny pokazateli kachestwa IIUS razlichnyh JeMK s EIP dlq awtomatizirowannogo proizwodstwa (AP). Razrabotan weroqtnostno-ämpiricheskij metod analiza ustojchiwosti IIUS JeMK s EIP. Pokazana metodika opredeleniq i naladki tehnicheskih harakteristik i prowedeno äxperimental'noe issledowanie tehnicheskih harakteristik IIUS JeMK s EIP.
Autorenporträt
Garipow Vadim Kadimowich, doktor tehnicheskih nauk, professor, MGUPI, Moskwa, Olejnikow Nikolaj Alexandrowich, aspirant, MGUPI, Moskwa, Slepcow Vladimir Vladimirowich, doktor tehnicheskih nauk, professor, MGUPI, Moskwa