W artykule przedstawiono model przeznaczony do analizy obrazów zawieraj¿cych wzorce dyfrakcyjne, a tak¿e oprogramowanie opracowane do wykonywania pomiarów k¿tów i odleg¿o¿ci pomi¿dzy ró¿nymi punktami charakterystycznymi (sygnäami) zawartymi we wzorcach badanych przez badaczy Centrum Badä Materiäów Zaawansowanych (CIMAV). G¿ównym powodem opracowania tego systemu jest fakt, ¿e badacze musz¿ r¿cznie wykonywä proces analizy i indeksowania wzorców dyfrakcyjnych, zadanie, które staje si¿ ¿mudne i podatne na b¿¿dy ludzkie. Dlatego te¿ narz¿dzie zostäo zaprojektowane tak, aby zautomatyzowä i pomóc w indeksowaniu wzorców w obrazach, u¿atwiaj¿c proces wykrywania sygnäu, a tym samym osi¿gni¿cie dok¿adniejszego pomiaru pomi¿dzy elementami analizowanego wzorca dyfrakcyjnego.