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Dieses Papier stellt das Modell vor, das für die Analyse von Bildern mit Beugungsmustern entwickelt wurde, sowie die Software, die entwickelt wurde, um Messungen von Winkeln und Abständen zwischen verschiedenen charakteristischen Punkten (Signalen) durchzuführen, die in den Mustern enthalten sind, die von den Forschern des Center for Research in Advanced Materials (CIMAV) untersucht werden. Der Hauptgrund für die Entwicklung dieses Systems liegt darin, dass Forscher den Prozess der Analyse und Indexierung von Beugungsmustern manuell durchführen müssen, eine Aufgabe, die mühsam und anfällig für…mehr

Produktbeschreibung
Dieses Papier stellt das Modell vor, das für die Analyse von Bildern mit Beugungsmustern entwickelt wurde, sowie die Software, die entwickelt wurde, um Messungen von Winkeln und Abständen zwischen verschiedenen charakteristischen Punkten (Signalen) durchzuführen, die in den Mustern enthalten sind, die von den Forschern des Center for Research in Advanced Materials (CIMAV) untersucht werden. Der Hauptgrund für die Entwicklung dieses Systems liegt darin, dass Forscher den Prozess der Analyse und Indexierung von Beugungsmustern manuell durchführen müssen, eine Aufgabe, die mühsam und anfällig für menschliche Fehler wird. Aus diesem Grund wurde das Werkzeug so konzipiert, dass es die Indizierung von Mustern in Bildern automatisiert und unterstützt, den Prozess der Signalerkennung erleichtert und so eine genauere Messung zwischen den Elementen des analysierten Beugungsmusters erzielt.
Autorenporträt
Tania Campos obtuvo la Maestría Sistemas Computacionales en el área de Inteligencia Artificial en el TecNM campus Chihuahua II en 2016. Es coautora del artículo Method for Signals Detection in Single Crystal Diffraction Patterns through a Diffraction Pattern Indexing Software publicado en el Journal of Mechanics Engineering and Automation en 2015.