Ispol'zowanie on ¿ lajn kontrolq kak na urowne nadsistemy, tak i na urowne wzaimoswqzannyh podsistem s primeneniem izmeritel'noj tehniki na baze älektromagnitnoj funkcii izlucheniq i älektricheskogo soprotiwleniq w uslowiqh real'nogo wremeni i principow razwitoj skorostnoj rezonansnoj spektroskopii.Primenenie sistem komplexnoj integratiwnoj awtomaticheskoj sborki älektronnyh komponentow nadsistem i podsistem s predwaritel'nym shtampowaniem whodqschih detalej i älementow.Primenenie w sistemah mikro - awtomatiki mikrodwigatelej, wysoko - momentnyh i pri ätom rabotaüschih na baze principow obratnogo p'ezoälektricheskogo äffekta.Kontrol' opticheskih parametrow nadsistem i podsistem pri pomoschi nowejshih mobil'nyh prilozhenij i ustrojstw na ih baze.Izgotowlenie detalej i uzlow ustrojstw, apparatow, sistem wseh urownej slozhnosti, wklüchaq kak nadsistemy ¿ tak i podsistemy na real'no suschestwuüschem na predpriqtiqh w kommercheskoj äxpluatacii special'nom tehnologicheskom oborudowanii s obespecheniem polucheniq wseh neobhodimyh dlq klassifikacii umnogo oborudowaniq harakteristik i parametrow.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.