Der Forschungsbereich Intelligente Systeme verbindet die Robotertechnik mit der Künstlichen Intelligenz, um Systeme zu schaffen, die in der Lage sind, schwierige Aufgaben auszuführen. So z.B. unbemannte Fahrzeuge wie der Mars Rover oder Erkundungsfahrzeuge für militärische Zwecke, die eigenständig navigieren, Daten sammeln und sich auch gegen Angriffe verteidigen können.
Dieses Buch bietet eine umfassende Darstellung des Bereichs Intelligenter Systeme. Es wurde von zwei herausragenden Kapazitäten auf diesem Gebiet geschrieben - James Albus, Director der Intelligent Systems Division des NIST (National Institute of Standards and Technology), und Alexander Meystel, anerkannter Forscher und Director of the Laboratory of Applied Machine Intelligence of Robotics (LAMIR) der Universität Drexel, Pennsylvania. Ein vielversprechendes Buch, das Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet intelligenter Systeme in den kommenden Jahren beeinflussen wird.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Dieses Buch bietet eine umfassende Darstellung des Bereichs Intelligenter Systeme. Es wurde von zwei herausragenden Kapazitäten auf diesem Gebiet geschrieben - James Albus, Director der Intelligent Systems Division des NIST (National Institute of Standards and Technology), und Alexander Meystel, anerkannter Forscher und Director of the Laboratory of Applied Machine Intelligence of Robotics (LAMIR) der Universität Drexel, Pennsylvania. Ein vielversprechendes Buch, das Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet intelligenter Systeme in den kommenden Jahren beeinflussen wird.
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"An original model of intelligent systems ins introduced, integrating knowledge from diverse sources and developing a general theory that can be used for analysis of all kinds of highly complex systems..." (SciTech Book News, Vol. 25, No. 4, December 2001)
"...It is a highly valuable book for students, workers and researchers in this area." (Measurement & Control, May 2003)
"...It is a highly valuable book for students, workers and researchers in this area." (Measurement & Control, May 2003)