Rassmotrena struktura informacionno-izmeritel'noj i uprawlqüschej sistemy (IIUS) kontaktnoj termometrii dlq opredeleniq teplofizicheskih swojstw rasplawow metallow, pozwolqüschaq powysit' tochnost' izmerenij i sokratit' wremq opredeleniq teplofizicheskih dannyh metallicheskih rasplawow za schet integracii rezul'tatow izmerenij w proizwodstwennoj IIUS. Predstawleny izmeritel'nye zondy dlq operatiwnogo opredeleniq teplofizicheskih swojstw metallicheskih rasplawow, pozwolqüschie suschestwenno sokratit' wremq izmereniq.
Bitte wählen Sie Ihr Anliegen aus.
Rechnungen
Retourenschein anfordern
Bestellstatus
Storno