40,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
payback
20 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Rassmotrena struktura informacionno-izmeritel'noj i uprawlqüschej sistemy (IIUS) kontaktnoj termometrii dlq opredeleniq teplofizicheskih swojstw rasplawow metallow, pozwolqüschaq powysit' tochnost' izmerenij i sokratit' wremq opredeleniq teplofizicheskih dannyh metallicheskih rasplawow za schet integracii rezul'tatow izmerenij w proizwodstwennoj IIUS. Predstawleny izmeritel'nye zondy dlq operatiwnogo opredeleniq teplofizicheskih swojstw metallicheskih rasplawow, pozwolqüschie suschestwenno sokratit' wremq izmereniq.

Produktbeschreibung
Rassmotrena struktura informacionno-izmeritel'noj i uprawlqüschej sistemy (IIUS) kontaktnoj termometrii dlq opredeleniq teplofizicheskih swojstw rasplawow metallow, pozwolqüschaq powysit' tochnost' izmerenij i sokratit' wremq opredeleniq teplofizicheskih dannyh metallicheskih rasplawow za schet integracii rezul'tatow izmerenij w proizwodstwennoj IIUS. Predstawleny izmeritel'nye zondy dlq operatiwnogo opredeleniq teplofizicheskih swojstw metallicheskih rasplawow, pozwolqüschie suschestwenno sokratit' wremq izmereniq.
Autorenporträt
Garipow Vadim Kadimowich, doktor tehnicheskih nauk, professor, MGUPI, Moskwa, Olejnikow Nikolaj Alexandrowich, aspirant, MGUPI, Moskwa, Slepcow Vladimir Vladimirowich, doktor tehnicheskih nauk, professor, MGUPI, Moskwa