Oggi i latches e i flip-flop sono ampiamente utilizzati per la memorizzazione dei dati. Questo libro si concentra sulla revisione, lo studio e la progettazione di circuiti tolleranti ai guasti per ridurre i guasti a livello di circuito e proteggere un circuito dai guasti. In questo libro vengono discussi otto nuovi latch a bassa potenza con tolleranza ai guasti e quattro flip-flop privi di glitch. Le configurazioni dei latch sono progettate con struttura 1P-2N e 2P-1N o con struttura 1P-2N, 2P-1N e C-element. Se un errore transitorio colpisce una delle strutture, viene corretto dall'altra struttura. I flip flop dual edge triggered privi di glitch sono progetti nuovi e unici. Finora, i progetti DET-FF esistenti sono stati realizzati utilizzando un circuito a elementi C o una struttura 1P-2N o una struttura 2P-1N, ma i progetti innovativi proposti sono stati progettati utilizzando una combinazione di circuito a elementi C e struttura 2P-1N o circuito a elementi C e struttura 1P-2N. I nuovi DET-FF senza glitch forniscono un'uscita totalmente priva di glitch e possono aumentare l'efficienza del sistema. La novità potenziale di questo lavoro è che i nuovi progetti presentati possono ridurre il consumo di energia del 50% e contribuire al risparmio energetico totale del sistema.
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