Richard Glocker

Materialprüfung mit Röntgenstrahlen

Unter besonderer Berücksichtigung der Röntgenmetallkunde

• Broschiertes Buch

Produktbeschreibung

1. Rontgen-und y-Strahlen~ ihre Entstehung und ihre Anwendung in der Werkstoffpriifung Die Rontgenstrahlen gehoren zu der groBen Klasse der elektromagne tischen Schwingungen, deren Vertreter, entsprecp. end der groBen Ver schiedenheit der Wellenlange, auBerordentliche Unterschiede in ihren Eigenschaften aufweisen. Tabelle 1. 1 Elektromagnetische Strahllt)~gen Name der Strahlung Wellenlange Drahtlose Telegraphie und Rundiunk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . einige ern bis kID Warmestrahlen (ultrarote Strahlen). . . . . . . . . . . . . . . . . . 0,00l-0,5 . . . . mm 3 Optiseh sichtbares Licht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 0,4-0,8. 10- mm 3 Ultraviolettes Licht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 0,1-0,4'10- mm 7 Strahlung einer R6ntgenriihre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-0,02'10- mm 7 Durchdringungsfahigste y-Strahlen des Radiums . . . . . . . . . . etwa 0,005 . 10- rnrn Kilrzeste Wellenlange der Strahlung eines Betatrons 11 bei 30 J:Iillionen Volt Betriebsspannung . . . . . . . . . . . . . . . 4. 10- mm Obwohl RONTGEN in seinen drei grundlegenden JlIitteilungen (1895 bis 1898) bereits aIle wesentlichen Eigenschaften der nach ihm benann ten Strahlung beschrieben hatte, wurde doch erst 1912 durch v. LAUE, FRIEDRICH und KNIPPING der unmittelbare experimenteIle Beweis fUr die elektromagnetische Natur der Strahlen erbracht durch die Ent deckung der Beugung del' Rontgenstrahlen beim Durchgang durch Kristalle. Dieser Versuch war von groBter Bedeutung fUr die Entwick lung der Atomphysik. Die Untersuchung des Mechanismus der Rontgen strahlen-Emission zusammen mit der Erforschung der Radioaktivitat (M. und P. CURIE, RUTHERFORD) lieferte wesentliche Erkenntnisse hinsichtlich der Struktur der Atome. Der Begriff des Atomes als einer kleinsten, unteilbaren Einheit alles Stofflichen hat im Laufe del' letzten Jahrzehnte eine grundlegende Wandlung erfahren. GroBe Teile des Atominneren sind "leer", das heiBt 1 Giocker, Materiaiprufung, 5. Auff. Tabelle 1. 2.

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Produktdetails

• Verlag: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin
• Artikelnr. des Verlages: 978-3-540-13981-2
• 5., erw. Aufl.
• Seitenzahl: 644
• Erscheinungstermin: 15. März 1985
• Deutsch
• Abmessung: 235mm x 155mm x 35mm
• Gewicht: 1178g
• ISBN-13: 9783540139812
• ISBN-10: 3540139818
• Artikelnr.: 34215760

Inhaltsangabe

1. Röntgen- und ?-Strahlen, ihre Entstehung und ihre Anwendung in der Werkstoffprüfung.- I. Strahlungsquellen.- 2. Röntgenröhren und Röntgenapparate.- 3. Vielfachbesehleuniger.- 4. Radioaktive Isotope.- II. Eigenschaften der Röntgenstrahlen.- 5. Absorption und Sekundärstrahlung.- 6. Beugung und Brechung.- 7. Ionisation, Lumineszenz, photographische Wirkung.- III. Strahlenschutz.- 8. Schutzmaßnahmen und Schutzvorschriften.- IV. Grobstrukturuntersuchung.- 9. Grundlagen der Grobstrukturuntersuchung.- 10. Praktische Anwendung der Grobstrukturuntersuchung.- V. Spektralanalyse.- 11. Grundlagen der Röntgenspektroskopie.- 12. Photographische Spektralanalyse.- 13. Zählrohrspektrometer.- 14. Durchführung von Fluoreszenz-Röntgenanalysen und technische Anwendungen.- 15. Mikrosonde.- VI. Feinstrukturuntersuchung.- 16. Überblick über die verschiedenen Verfahren der Feinstrukturuntersuchung und ihre Anwendungsgebiete.- 17. Kristallographische Grundlagen.- 18. Pulverdiagramme.- 19. Einkristalldiagramme.- 20. Diffraktometer (Zählrohrgoniometer).- 21. Intensität der Röntgeninterferenzen.- 22. Überblick über den Gang einer Strukturbestimmung.- 23. Beschreibung von Kristallstrukturen anorganischer und organischer Stoffe und Grundzüge der Kristallchemie.- 24. Gitterstörungen.- 25. Der Mischkristall und seine Umwandlungsvorgänge.- 26. Verbreiterung von Röntgeninterferenzen.- 27. Messung von elastischen Spannungen.- 28. Kristalltexturen.- 29. Nichtkristalline feste Stoffe und Schmelzen.- 30. Kleinwinkelstreuung.- Mathematischer Anhang.- A. Beispiele für Absorptionsberechnungen.- B. Statistische Schwankungen bei Gas- und Szintillationszählern.- C. Kristallographische Formeln.- D. Reziprokes Gitter.- E. Stereographische Projektion.- F. Korrektionsverfahren fürLinienbreiten und Linienprofile.- G. Beispiele für Spannungsmessung mit Filmverfahren und Goniometer.- H. Fourier-Analyse bei amorphen Stoffen und Schmelzen.- I. Auswertungsverfahren der Kleinwinkelstreuung.- K. Grundgedanken der Theorie des Parakristalles.- Schrifttum.- Namenverzeichnis.