Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- And Nanoelectronics

Volume 990: Symposium Held April 10 12, 20
Herausgeber: Lin, Qinghuang; Wu, Wen-Li; Ryan, E. Todd

• Broschiertes Buch

Produktbeschreibung

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Produktdetails

• Verlag: Cambridge University Press
• Seitenzahl: 358
• Erscheinungstermin: 26. Juli 2012
• Englisch
• Abmessung: 229mm x 152mm x 19mm
• Gewicht: 519g
• ISBN-13: 9781107408715
• ISBN-10: 1107408717
• Artikelnr.: 40925979